2020年
Measurement of Single-Event Upsets in 65-nm SRAMs Under Irradiation of Spallation Neutrons at J-PARC MLF
IEEE Transactions on Nuclear Science
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- 開始ページ
- 1
- 終了ページ
- 1
- 記述言語
- 掲載種別
- 研究論文（学術雑誌）
- DOI
- 10.1109/tns.2020.2978257
- 出版者・発行元
- Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
- リンク情報
- ID情報
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- DOI : 10.1109/tns.2020.2978257
- ISSN : 0018-9499
- eISSN : 1558-1578