2008年11月4日
High energy resolution hard X-ray and gamma-ray imagers using CdTe diode devices
IEEE Transactions on Nuclear Science
- 巻
- 56
- 号
- 3
- 開始ページ
- 777
- 終了ページ
- 782
- 記述言語
- 掲載種別
- 研究論文（学術雑誌）
- DOI
- 10.1109/TNS.2008.2008806
- リンク情報
-
- DOI
- https://doi.org/10.1109/TNS.2008.2008806
- arXiv
- http://arxiv.org/abs/arXiv:0811.0415
- URL
- http://arxiv.org/abs/0811.0415v1
- URL
- http://arxiv.org/pdf/0811.0415v1 本文へのリンクあり
- Scopus
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- ID情報
-
- DOI : 10.1109/TNS.2008.2008806
- ISSN : 0018-9499
- arXiv ID : arXiv:0811.0415
- SCOPUS ID : 67649161005