高速重イオンをプローブとした二次イオン質量分析法(SIMS)は、1μm程度の面分解能で分析可能なことに加え、従来のSIMSに比較し高分子に対して高い感度での分析、および1000 Pa程度の低真空下に保持されたサンプルの分析が可能である。本発表では高速イオンによるSIMSでラットの脳組織内に含まれるリン脂質のイメージングを実施した結果を報告する。