国際会議 2014年9月10日 Imaging mass spectrometry and depth profiling for organic thin films using laser desorption ionization 18th International Microscopy Congress (IMC2014) T. Satoh, M. Shima, H. Niimi, Y. Nakajima, M. Fujii, T. Seki, J. Matsuo 記述言語 英語 会議種別 ポスター発表