日本原子力研究開発機構原子力科学研究所では、放射性気体廃棄物中に存在するトリチウムガス(HT)をトリチウム水蒸気(HTO)に酸化するため、酸化触媒を600$^{\circ}$Cに加熱して使用している。本研究では、酸化触媒の加熱温度を低下させ、より安全な$^{3}$Hモニタリング手法を確立することを目的として、疎水性Pd/SiO$_{2}$触媒, CuO触媒、及びPt/Al$_{2}$O$_{3}$触媒の異なる温度条件下における水素ガスに対する酸化効率を検証した。その結果、疎水性Pd/SiO$_{2}$触媒及びPt/Al$_{2}$O$_{3}$触媒の水素に対する酸化性能はCuO触媒と比較して優れており、25$^{\circ}$Cの室内温度条件下においても水素を十分に酸化する能力があることが明らかとなり、$^{3}$Hモニタリングにおける安全性の向上が期待できる。