論文

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2017年6月

中性子回折を用いたCIC導体のNb$_{3}$Sn素線の曲げひずみ評価

IEEE Transactions on Applied Superconductivity

辺見努*
Harjo S.
梶谷秀樹*
諏訪友音*
齊藤徹*
相澤一也
長村光造*
小泉徳潔*

巻: 27
号: 4
開始ページ: 4200905\_1
終了ページ: 4200905\_5
記述言語: 英語
掲載種別: 研究論文（学術雑誌）
DOI: 10.1109/TASC.2017.2660064

リンク情報

DOI: https://doi.org/10.1109/TASC.2017.2660064
Web of Science: https://gateway.webofknowledge.com/gateway/Gateway.cgi?GWVersion=2&SrcAuth=JSTA_CEL&SrcApp=J_Gate_JST&DestLinkType=FullRecord&KeyUT=WOS:000395806600001&DestApp=WOS_CPL
URL: https://jopss.jaea.go.jp/search/servlet/search?5060691

ID情報

DOI : 10.1109/TASC.2017.2660064
ISSN : 1051-8223
eISSN : 1558-2515
Web of Science ID : WOS:000395806600001

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