論文

査読有り
2018年8月1日

Randomness Test to Solve Discrete Fourier Transform Test Problems

IEICE Transactions on Fundamentals of Electronics, Communications and Computer Sciences
  • Atsushi IWASAKI
  • ,
  • Ken UMENO

記述言語
英語
掲載種別
研究論文(学術雑誌)
DOI
10.1587/transfun.E101.A.1204

リンク情報
DOI
https://doi.org/10.1587/transfun.E101.A.1204
ID情報
  • DOI : 10.1587/transfun.E101.A.1204
  • ORCIDのPut Code : 78089259

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