2013年5月 - 2015年4月
National Institute of Standards and Technology CMOS Reliability and Advanced Devices Group, Semiconductor and Dimensional Metrology Division, Physical Measurement Laboratory Guest Researcher
- 国・地域
- アメリカ合衆国
松田 朝彦
マツダ アサヒコ (Asahiko Matsuda)
更新日: 09/25
経歴
「National Institute of Standards and Technology」が経歴にある研究者
ナカシマ ヨシヒロYoshihiro NakashimaNational Institute of Standards and Technology (NIST)Physical Measurement Laboratory Guest Researcher
