松田 朝彦

• プラズマ曝露により半導体表面に誘起される欠陥を高精度で解析する分光測定技術の開発 

  日本学術振興会 科学研究費助成事業 特別研究員奨励費 2011年4月 - 2012年

  松田 朝彦