2011年3月 恐怖記憶の消去システムに対する幼若期ストレスの影響とその分子機構 日本薬学会年会要旨集 石川 修平, 柳川 芳毅, 松本 真知子, 重堂 智加, 木村 真一, 島村 佳一 巻 131年会 号 3 開始ページ 154 終了ページ 154 記述言語 日本語 掲載種別 出版者・発行元 (公社)日本薬学会 ID情報 ISSN : 0918-9823医中誌Web ID : 2012184607 エクスポート BibTeX RIS