相京隆 (Takashi Aikyo) - マイポータル

基本情報

所属: 早稲田大学理工学術院総合研究所招聘研究員

学位: 博士（工学）

連絡先: t.aikyokurenai.waseda.jp
J-GLOBAL ID: 201701011696281370
researchmap会員ID: B000271213

研究分野

ものづくり技術（機械・電気電子・化学工学） / 電子デバイス、電子機器 /

経歴

2025年4月 - 現在

早稲田大学理工学術院総合研究所, 招聘研究員
2022年2月 - 2025年3月

早稲田大学理工学術院総合研究所, 上級研究員 (研究院教授)
2017年2月 - 2021年3月

国立研究開発法人科学技術振興機構, 戦略研究推進部グリーンイノベーショングループ, 主任調査員

論文

A Variability-Aware Adaptive Test Flow for Test Quality Improvement.

Michihiro Shintani, Takumi Uezono, Tomoyuki Takahashi, Kazumi Hatayama, Takashi Aikyo, Kazuya Masu, Takashi Sato

IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems 33(7) 1056-1066 2014年
Generation of Diagnostic Tests for Transition Faults Using a Stuck-At ATPG Tool.

Yoshinobu Higami, Satoshi Ohno, Hironori Yamaoka, Hiroshi Takahashi, Yoshihiro Shimizu, Takashi Aikyo

IEICE Transactions on Information & Systems 95-D(4) 1093-1100 2012年
Distribution-Controlled X-Identification for Effective Reduction of Launch-Induced IR-Drop in At-Speed Scan Testing.

Kohei Miyase, Kenji Noda, Hideaki Ito, Kazumi Hatayama, Takashi Aikyo, Yuta Yamato, Hiroshi Furukawa, Xiaoqing Wen, Seiji Kajihara

IEICE Transactions on Information & Systems 94-D(6) 1216-1226 2011年
Test Challenge for Deep Sub-micron Era - Test & Diagnosis Platform: STARCAD-Clouseau.

Takashi Aikyo

25th IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems(DFT) 227-227 2010年
A Study of Capture-Safe Test Generation Flow for At-Speed Testing.

Kohei Miyase, Xiaoqing Wen, Seiji Kajihara, Yuta Yamato, Atsushi Takashima, Hiroshi Furukawa, Kenji Noda, Hideaki Ito, Kazumi Hatayama, Takashi Aikyo …

IEICE Transactions on Fundamentals of Electronics, Communications and Computer Sciences 93-A(7) 1309-1318 2010年
Small Delay Fault Model for Intra-Gate Resistive Open Defects.

Masayuki Arai, Akifumi Suto, Kazuhiko Iwasaki, Katsuyuki Nakano, Michihiro Shintani, Kazumi Hatayama, Takashi Aikyo

27th IEEE VLSI Test Symposium(VTS) 27-32 2009年
Fault Effect of Open Faults Considering Adjacent Signal Lines in a 90 nm IC.

Hiroyuki Yotsuyanagi, Masaki Hashizume, Toshiyuki Tsutsumi, Koji Yamazaki, Takashi Aikyo, Yoshinobu Higami, Hiroshi Takahashi, Yuzo Takamatsu

VLSI Design 2009: Improving Productivity through Higher Abstraction 91-96 2009年
A Novel Approach for Improving the Quality of Open Fault Diagnosis.

Koji Yamazaki, Toshiyuki Tsutsumi, Hiroshi Takahashi, Yoshinobu Higami, Takashi Aikyo, Yuzo Takamatsu, Hiroyuki Yotsuyanagi, Masaki Hashizume

VLSI Design 2009: Improving Productivity through Higher Abstraction 85-90 2009年
Diagnostic test generation for transition faults using a stuck-at ATPG tool.

Yoshinobu Higami, Yosuke Kurose, Satoshi Ohno, Hironori Yamaoka, Hiroshi Takahashi, Yoshihiro Shimizu, Takashi Aikyo, Yuzo Takamatsu

2009 IEEE International Test Conference(ITC) 1-9 2009年
A novel post-ATPG IR-drop reduction scheme for at-speed scan testing in broadcast-scan-based test compression environment.

Kohei Miyase, Yuta Yamato, Kenji Noda, Hideaki Ito, Kazumi Hatayama, Takashi Aikyo, Xiaoqing Wen, Seiji Kajihara

2009 International Conference on Computer-Aided Design(ICCAD) 97-104 2009年
An Adaptive Test for Parametric Faults Based on Statistical Timing Information.

Michihiro Shintani, Takumi Uezono, Tomoyuki Takahashi, Hiroyuki Ueyama, Takashi Sato, Kazumi Hatayama, Takashi Aikyo, Kazuya Masu

Proceedings of the Eighteentgh Asian Test Symposium 151-156 2009年
Effective IR-drop reduction in at-speed scan testing using Distribution-Controlling X-Identification.

Kohei Miyase, Kenji Noda, Hideaki Ito, Kazumi Hatayama, Takashi Aikyo, Yuta Yamato, Hiroshi Furukawa, Xiaoqing Wen, Seiji Kajihara

2008 International Conference on Computer-Aided Design(ICCAD) 52-58 2008年
A Capture-Safe Test Generation Scheme for At-Speed Scan Testing.

Xiaoqing Wen, Kohei Miyase, Seiji Kajihara, Hiroshi Furukawa, Yuta Yamato, Atsushi Takashima, Kenji Noda, H. Ito, Kazumi Hatayama, Takashi Aikyo …

13th European Test Symposium(ETS) 55-60 2008年
Estimation of Delay Test Quality and Its Application to Test Generation.

Seiji Kajihara, Shohei Morishima, Masahiro Yamamoto, Xiaoqing Wen, Masayasu Fukunaga, Kazumi Hatayama, Takashi Aikyo

IPSJ Transactions on System LSI Design Methodology 1 104-115 2008年
Post-BIST Fault Diagnosis for Multiple Faults.

Hiroshi Takahashi, Yoshinobu Higami, Shuhei Kadoyama, Yuzo Takamatsu, Koji Yamazaki, Takashi Aikyo, Yasuo Sato

IEICE Transactions on Information & Systems 91-D(3) 771-775 2008年
Test Data Compression for Scan-Based BIST Aiming at 100x Compression Rate.

Masayuki Arai, Satoshi Fukumoto, Kazuhiko Iwasaki, Tatsuru Matsuo, Takahisa Hiraide, Hideaki Konishi, Michiaki Emori, Takashi Aikyo

IEICE Transactions on Information & Systems 91-D(3) 726-735 2008年
Fault Diagnosis on Multiple Fault Models by Using Pass/Fail Information.

Yuzo Takamatsu, Hiroshi Takahashi, Yoshinobu Higami, Takashi Aikyo, Koji Yamazaki

IEICE Transactions on Information & Systems 91-D(3) 675-682 2008年
Clues for modeling and diagnosing open faults with considering adjacent lines

Hiroshi Takahashi, Yoshinobu Higami, Shuhei Kadoyama, Takashi Aikyo, Yuzo Takamatsu, Koji Yamazaki, Toshiyuki Tsutsumi, Hiroyuki Yotsuyanagi, Masaki Hashizume

PROCEEDINGS OF THE 16TH ASIAN TEST SYMPOSIUM 39-+ 2007年査読有り
Estimation of delay test quality and its application to test generation.

Seiji Kajihara, Shohei Morishima, Masahiro Yamamoto, Xiaoqing Wen, Masayasu Fukunaga, Kazumi Hatayama, Takashi Aikyo

2007 International Conference on Computer-Aided Design(ICCAD) 413-417 2007年
Test Generation and Diagnostic Test Generation for Open Faults with Considering Adjacent Lines.

Hiroshi Takahashi, Yoshinobu Higami, Toru Kikkawa, Takashi Aikyo, Yuzo Takamatsu, Hiroyuki Yotsuyanagi, Masaki Hashizume

22nd IEEE International Symposium on Defect and Fault-Tolerance in VLSI Systems (DFT 2007)(DFT) 243-251 2007年

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MISC

統計的タイミング解析を用いたばらつき考慮テストメソドロジ

新谷道広, 畠山一実, 相京隆

電子情報通信学会技術研究報告 110(413(DC2010 59-69)) 2011年
故障励起関数を利用したオープン故障の診断法

山崎浩二, 堤利幸, 高橋寛, 樋上喜信, 相京隆, 四柳浩之, 橋爪正樹, 高松雄三

電子情報通信学会論文誌 D J93-D(11) 2010年
遅延故障診断に関する研究

高橋寛, 樋上喜信, 高松雄三, 相京隆

愛媛大学社会連携推進機構研究成果報告書 (3) 2010年
組合せ回路に対する欠陥考慮テストパターンの一生成法

高橋寛, 樋上喜信, 和泉太佑, 相京隆, 高松雄三

電子情報通信学会技術研究報告 108(431(DC2008 68-78)) 2009年
検出可能な遅延故障サイズを考慮した遅延故障診断法

相京隆, 高橋寛, 樋上喜信, 大津潤一, 小野恭平, 清水隆治, 高松雄三

電子情報通信学会論文誌 D J92-D(7) 2009年
遅延故障シミュレーションに基づく欠陥診断

高橋寛, 樋上喜信, 岡山浩士, 相京隆, 高松雄三

電子情報通信学会大会講演論文集 2009 2009年
統計的タイミング情報に基づく適応型テスト

新谷道広, 高橋知之, 植山寛之, 上薗巧, 佐藤高史, 畠山一実, 相京隆, 益一哉

電子情報通信学会大会講演論文集 2009 2009年
事前見積りを利用した電力・ノイズ考慮テスト

埜田健治, 伊藤秀昭, 畠山一実, 相京隆

電子情報通信学会技術研究報告 109(95(DC2009 10-17)) 2009年
STARCにおけるLSIの故障診断の先端研究

相京隆

日本信頼性学会誌 31(7) 2009年
動的なオープン故障に対するテストパターン生成法

高橋寛, 樋上喜信, 渡部哲也, 相京隆, 高松雄三

電子情報通信学会大会講演論文集 2008 2008年
隣接信号線を考慮した動的なオープン故障に対する故障診断法

高橋寛, 樋上喜信, 相京隆, 門山周平, 渡部哲也, 高松雄三, 堤利幸, 山崎浩二, 四柳浩之, 橋爪正樹

電子情報通信学会技術研究報告 107(482(DC2007 67-83)) 2008年
オープン故障診断の性能向上について

山崎浩二, 堤利幸, 高橋寛, 樋上喜信, 相京隆, 四柳浩之, 橋爪正樹, 高松雄三

電子情報通信学会技術研究報告 108(99(DC2008 11-18)) 2008年
縮退故障ATPGを用いた遷移故障の診断用テスト生成法

相京隆, 樋上喜信, 高橋寛, 黒瀬洋介, 高松雄三

電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2008 2008年
遅延故障シミュレーションを利用した欠陥診断法

高橋寛, 樋上喜信, 岡山浩士, 小野恭平, 相京隆, 高松雄三

電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2008 2008年
抵抗性ブリッジ故障シミュレーションについて

高橋寛, 樋上喜信, 北橋省吾, 相京隆, 高松雄三

電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2008 2008年
欠陥検出向けテストパターンの一選択法

高橋寛, 樋上喜信, 和泉太佑, 相京隆, 高松雄三

電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2008 2008年
故障励起条件を考慮した欠陥検出テストパターン

高橋寛, 樋上喜信, 和泉太佑, 相京隆, 高松雄三

電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2007 2007年
遅延故障に対する診断用テスト生成法

相京隆, 吉川達, 樋上喜信, 高橋寛, 高松雄三

電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2007 2007年
遷移遅延故障に対する高品質テスト生成手法について

森島翔平, 山本真裕, 梶原誠司, WEN Xiaoqing, 福永昌勉, 畠山一実, 相京隆

電子情報通信学会技術研究報告 106(528(DC2006 80-90)) 2007年
微小遅延故障に対する故障診断

相京隆, 高橋寛, 樋上喜信, 大津潤一, 小野恭平, 高松雄三

電気関係学会四国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 2007 2007年

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共同研究・競争的資金等の研究課題

体内埋込み型医療機器向けLSI回路のための極低電力自己テスト方式に関する研究

日本学術振興会科学研究費助成事業基盤研究(B) 2013年4月 - 2018年3月

温暁青, 宮瀬紘平, Holst Stefan, 梶原誠司, 樹下行三, 相京隆, 高木範明

相京隆

基本情報

研究分野

経歴

論文

MISC

共同研究・競争的資金等の研究課題

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