2018年
次世代型X線撮像分光器XRPIXの陽子線損傷実験および回路損傷部分の究明
日本物理学会講演概要集
- 巻
- 73
- 号
- 開始ページ
- 475
- 終了ページ
- 475
- 記述言語
- 日本語
- 掲載種別
- DOI
- 10.11316/jpsgaiyo.73.1.0_475
- 出版者・発行元
- 一般社団法人 日本物理学会
- リンク情報
- ID情報
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- DOI : 10.11316/jpsgaiyo.73.1.0_475
- CiNii Articles ID : 130007648568