論文

査読有り

2001年5月

New Functions of Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy –Higher-Order Measurement and Vertical Resolution–

Japanese Journal of Applied Physics

Yasuo Cho
Koya Ohara
Atsushi Koike
Hiroyuki Odagawa

巻: 40
号: 5B
開始ページ: 3544
終了ページ: 3548
記述言語: 英語
掲載種別: 研究論文（学術雑誌）
DOI: 10.1143/JJAP.40.3544

リンク情報

DOI: https://doi.org/10.1143/JJAP.40.3544
Web of Science: https://gateway.webofknowledge.com/gateway/Gateway.cgi?GWVersion=2&SrcAuth=JSTA_CEL&SrcApp=J_Gate_JST&DestLinkType=FullRecord&KeyUT=WOS:000170772100016&DestApp=WOS_CPL
URL: http://iopscience.iop.org/article/10.1143/JJAP.40.3544

ID情報

DOI : 10.1143/JJAP.40.3544
ISSN : 0021-4922
Web of Science ID : WOS:000170772100016

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