基本情報

所属
一般財団法人 ファインセラミックスセンター ナノ構造研究所 電子顕微鏡基盤G 兼)材料技術研究所 材料評価・試作G 上級技師 (1級技能士)

研究者番号
20590079
ORCID iD
 https://orcid.org/0000-0002-8804-9815
J-GLOBAL ID
202001009162847230
researchmap会員ID
R000006032

外部リンク

論文

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MISC

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書籍等出版物

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  • 日本表面真空学会 (担当:分担執筆, 範囲:5. SEMの応用・発展 5.2 セラミックスの観察)
    丸善出版 2025年12月 (ISBN: 9784621312278)
  • 會田 英雄, 山本 秀和, 近藤 宏行, 只友 一行, 鈴木 崇志, 佐々木 公平, 鹿田 真一, 長屋 正武, 皿山 正二, 渡辺 信也, 原田 裕幸, 小堀 康之, 橋本 忠朗, 尾崎 雅英, 後藤 和彦, 豊田 和彦, 宮下 忠一, 伊東 利洋, 荻原 直樹, 田中 匡志, 山口 直宏, 瀬川 悟志, 高見 信一郎, 松下 隆幸, 北嶋将太, 五十君 智, 倉見 比奈子, 井上 正, 齋藤 陽介, 有田 潔, 石川 一政, 檜山 浩國, 久保 祐一, 久野 耕司, 鈴木 宏之, 石川 由加里, 小川 光弘, 近藤 利幸, 藤木 翔太, 小林 健二, 中川 健, 足立 真理子, 稲葉 克彦, 横江 大作, 菅原 義弘, 畝田 道雄, 福田 明, 橋本 洋平, 磯部 浩已, 大宮 奈津子, 鈴木 教和, 土肥 俊郎, 久保田 章亀, 佐野 泰久, 村田 順二, 瀬下 清, 黒河 周平, 松井 伸介, 豊田 紀章, 千葉 翔悟, 永橋 潤司 (担当:分担執筆, 範囲:第6章 基板の計測・評価技術 第8節 電子線後方散乱回折-電子線回折の乱れを利用した歪の計測と分布評価-)
    株式会社R&D支援センター 2024年4月

所属学協会

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共同研究・競争的資金等の研究課題

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産業財産権

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