講演・口頭発表等

2021年6月

STEM-CBED法によるBaTiO3分極ナノドメインの電場印可その場観察

日本顕微鏡学会
  • 森川大輔
  • ,
  • 津田健治

記述言語
会議種別
口頭発表(一般)