Process variation aware analysis of SRAM SEU cross-sections using data retention voltage
IEEE Nuclear and Space Radiation Effects Conference (NSREC)
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- 開催年月日
- 2018年7月16日 - 2018年7月20日
- 記述言語
- 英語
- 会議種別
- 口頭発表（一般）
- 開催地
- Kona, HI
- 国・地域
- アメリカ合衆国
Paper C-3