2011年11月10日
フェムト秒レーザーを用いた2次中性粒子質量分析法の開発と宇宙試料分析への応用
應用物理
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- 巻
- 80
- 号
- 11
- 開始ページ
- 979
- 終了ページ
- 982
- 記述言語
- 日本語
- 掲載種別
- DOI
- 10.11470/oubutsu.80.11_979
- 出版者・発行元
- 公益社団法人 応用物理学会
<p>小惑星はやぶさが持ち帰った宇宙試料を分析するために，Gaイオン粒子でスパッタされた2次中性粒子をフェムト秒レーザーでイオン化する質量分析法を開発してきた．質量分析には多重周回飛行時間型質量分析器を用いている．現在，サンプル上で40nmの空間分解能とHeなどの希ガスを含む全元素のポストイオン化に成功している．本分析法を宇宙試料に適用することにより，太陽系誕生時の太陽活動の記録や太陽系誕生以前に形成した微粒子の年代測定が可能になると考えられる．</p>
- リンク情報
- ID情報
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- DOI : 10.11470/oubutsu.80.11_979
- ISSN : 0369-8009
- J-Global ID : 201102206356848770
- CiNii Articles ID : 10029794411
- CiNii Books ID : AN00026679