山本 和生

専門分野：
●高感度電子線ホログラフィー技術の開発（位相シフト電子線ホログラフィー）
●電子線ホログラフィーによる固体電池，無機/有機半導体，磁性体内部の電磁場計測およびオペランド計測（その場観察）．
●電子エネルギー損失分光法（EELS）による全固体電池のオペランド計測．
●高度画像解析技術（圧縮センシング，スパースモデリングなど）を用いた電子顕微鏡計測インフォマティクス．

主な研究成果（新着順）：

【2023年】：はやぶさ２が持ち帰った小惑星リュウグウ試料の磁鉄鉱ナノ粒子（Fe3O4）の磁場を，電子線ホログラフィーを用いて観察することに世界で初めて成功．
(Science, DOI：10.1126/science.abn8671. ← 日本セラミックス協会　学術写真　最優秀賞受賞)
(Scientific Reports, 13, 14096 (2023). ← 金属学会　金属組織写真奨励賞受賞)

【2021年】：高感度の位相計測が可能な位相シフト電子線ホログラフィーを用いて，有機EL内部の電位分布の直接観察に成功．
(Applied Physics Express, 14, 075007 (2021). ← 日本セラミックス協会　学術写真　優秀賞受賞)(Microscopy, 70, 24-38 (2021))
(Microscopy, in press, https://doi.org/10.1093/jmicro/dfad019)

【2020年】：硫化物固体電解質を用いたバルク型全固体Liイオン電池内部のLi分布をOperando STEM-EELSを用いて観察することに世界で初めて成功．
(ACS Energy Letters, 5, 2098-2105 (2020))

【2020年】：Operando STEM-EELSとスパースコーディングを組み合わせて，全固体Liイオン薄膜電池内部のLiイオンの動きを，世界最高速の時間分解能30 sで観察することに成功．
(Nature Communications, 11, 2824 (2020).　https://doi.org/10.1038/s41467-020-16622-w)

【2019年】：スパースコーディングを用いて，電子線ホログラムのS/Nを圧倒的に向上させることに成功．40倍の高速撮影化を可能にした．
(Ultramicroscopy 206 (2019) 112818. https://doi.org/10.1016/j.ultramic.2019.112818)

【2019年】：電子線ホログラフィーとEELSを用いて，金属電極／Liイオン伝導性固体電解質ナノ界面に形成されるイオンの空間電荷層（Ionic Space Charge Layer）を，世界で初めて可視化することに成功．
(Angew. Chem. Int. Ed. 58 (2019) 5292-5296. doi: 10.1002/anie.201814669)

【2018年】：Operando STEM-EELSを用いて，LiCoO2正極内部の2次元Li濃度分布を，充放電中に捉えることに成功（同一箇所における2次元Li濃度分布の変化を捉えたのは，世界初）．
(Nano Letters 18 (2018) 5892-5898. doi: 10.1021/acs.nanolett.8b02587)

【2015年】：Operando 位置分解TEM-EELSを用いて，その場形成負極が形成される過程の1次元Li濃度分布を，Dynamicalに捉えることに成功．
(Microscopy 64 (2015) 401-408. doi: 10.1093/jmicro/dfv050)

【2013年】：48億年前に形成された隕石ナノ粒子内部の磁束分布の観察に，世界で初めて成功．(Nature Communications (2013) DOI:10.1038/ncomms3649.)

【2010年】：TEM内で全固体Liイオン電池（full-cell）を充放電させる新技術を，世界に先駆けて開発．電子線ホログラフィーを用いて，電池内部の電位分布をオペランド計測することに世界で初めて成功．
(Angew. Chem. Int. Ed., 49 (2010) 4414-4417. Editorより，"Hot Paper"に選定)

【2008年】：強磁性ナノ粒子アレイ膜中の超強磁性（Dipolar Ferromagnetism）の巨大磁区構造（10ミクロンオーダーのスケール）を世界で初めて観察．
(Appl. Phys. Lett., 93 (2008) 082502.)

【2000年】：位相シフト電子線ホログラフィーを高度化し，世界最高の位相検出精度（1波長/300）を達成．
(J. Electron Microsc., 49 (2000) 31-39. ← 日本顕微鏡学会 論文賞受賞論文)