MISC

2004年1月

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IUMRS-ICAM2003 Abstracts
  • 星屋 泰二
  • ,
  • 高屋 茂
  • ,
  • 永江 勇二
  • ,
  • 阿部 康弘
  • ,
  • 青砥 紀身
  • ,
  • 上野 文義*

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記述言語
英語
掲載種別

原研とサイクル機構は、LWR及びFBR照射環境における材料劣化現象について、粒界近傍の特性変化に着目して、電磁気学的材料劣化評価法及び極微小腐食量計測法を用いた劣化機構及び劣化検出の検討を共同して開始した。本報では、イオン照射材に関する磁気測定実験法の概要、原子間力顕微鏡による評価法を中心に報告する。

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https://jopss.jaea.go.jp/search/servlet/search?4055002

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