論文

国際誌

2019年8月23日

Development of high DC-current measurement system using closed loop Hall Effect configuration

Fenfen Fenda Florena

記述言語: 英語
掲載種別: 研究論文（学術雑誌）
DOI: 10.1088/1757-899X/550/1/012013

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DOI: https://doi.org/10.1088/1757-899X/550/1/012013

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DOI : 10.1088/1757-899X/550/1/012013
ORCIDのPut Code : 61549582

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