国際会議 2012年7月 Robust absolute magnetometry with organic thin-film devices The 54th Annual Rocky Mountain Conference on Analytical Chemistry W. J. Baker, K. Ambal, D. P. Waters, R. Baarda, H. Morishita, K. van Schooten, D. R. McCamey, J. M. Lupton, C. Boehme 記述言語 英語 会議種別 口頭発表(一般)