MISC

2012年4月16日

SRAMとオンチップメモリ BIST を用いたチップ固有ID生成回路

電子情報通信学会技術研究報告. ICD, 集積回路
  • 藤原 英弘
  • ,
  • 藪内 誠
  • ,
  • 中野 裕文
  • ,
  • 河合 浩行
  • ,
  • 新居 浩二
  • ,
  • 有本 和民

112
15
開始ページ
91
終了ページ
95
記述言語
日本語
掲載種別
出版者・発行元
一般社団法人電子情報通信学会

本稿では高いタンパ耐性を実現するためのチップID生成手法について提案を行う。提案手法では,ID生成モードにおいて,SRAMの不良アドレスを発生させ,オンチップメモリBISTを用いてそれらの検出を行う。検出されたSRAM不良アドレスは,チップごとで異なるため,チップ固有IDに変換することができる。提案した手法を用いて128bit IDを生成した結果,ハミング距離の平均値および,IDの安定性は,それぞれ63.9,99.9%となった。さらに,提案した手法では,追加ハードウェア設計コストが不要である。

リンク情報
CiNii Articles
http://ci.nii.ac.jp/naid/110009564315
CiNii Resolver ID
http://ci.nii.ac.jp/nrid/9000018788184