論文

査読有り
2014年4月

A 40-nm Resilient Cache Memory for Dynamic Variation Tolerance Delivering ×91 Failure Rate Improvement under 35% Supply Voltage Fluctuation.

IEICE Transactions
  • Yohei Nakata
  • ,
  • Yuta Kimi
  • ,
  • Shunsuke Okumura
  • ,
  • Jinwook Jung
  • ,
  • Takuya Sawada
  • ,
  • Taku Toshikawa
  • ,
  • Makoto Nagata
  • ,
  • Hirofumi Nakano
  • ,
  • Makoto Yabuuchi
  • ,
  • Hidehiro Fujiwara
  • ,
  • Koji Nii
  • ,
  • Hiroyuki Kawai
  • ,
  • Hiroshi Kawaguchi
  • ,
  • Masahiko Yoshimoto

97-C
4
開始ページ
332
終了ページ
341
記述言語
掲載種別
研究論文(学術雑誌)
DOI
10.1587/transele.E97.C.332

リンク情報
DOI
https://doi.org/10.1587/transele.E97.C.332
URL
http://dblp.uni-trier.de/db/journals/ieicet/ieicet97c.html#journals/ieicet/NakataKOJSTNNYFNKKY14