論文

査読有り
2019年

TEM内その場変形トモグラフィー観察システムの開発

顕微鏡
  • 波多聰
  • 佐藤和久
  • 工藤博幸
  • 古河弘光
  • 川本克巳
  • 堀井則孝
  • 加茂勝己
  • 宮崎伸介
  • 權堂貴志
  • 宮崎裕也
  • 斉藤光
  • 村山光宏
  • 村山光宏
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54
1
開始ページ
44
終了ページ
48
記述言語
日本語
掲載種別
DOI
10.11410/kenbikyo.54.1_44
出版者・発行元
公益社団法人 日本顕微鏡学会

試料に応力を加えつつ電子線トモグラフィー観察が行えるシステムを開発した.その場変形トモグラフィー試料ホルダー,透過電子顕微鏡本体および撮像用カメラを統合制御し,試料に一定応力を加えたまま一定速度で傾斜しつつ連続傾斜像を高速収録する.この一連の作業を繰り返し,得られた連続傾斜像から三次元(3D)画像を再構成して収録順に出力することで,3D動画像を得る.Pb–Snはんだ合金への適用例を紹介する.

リンク情報
DOI
https://doi.org/10.11410/kenbikyo.54.1_44
J-GLOBAL
https://jglobal.jst.go.jp/detail?JGLOBAL_ID=201902263372806150
CiNii Books
http://ci.nii.ac.jp/ncid/AA11917781
CiNii Research
https://cir.nii.ac.jp/crid/1390282763118333824?lang=ja
URL
http://id.ndl.go.jp/bib/029752584
URL
https://kaken.nii.ac.jp/grant/KAKENHI-PLANNED-18H05479/
URL
https://kaken.nii.ac.jp/grant/KAKENHI-PROJECT-18K18954/
ID情報
  • DOI : 10.11410/kenbikyo.54.1_44
  • ISSN : 1349-0958
  • eISSN : 2434-2386
  • J-Global ID : 201902263372806150
  • CiNii Articles ID : 130007655723
  • CiNii Books ID : AA11917781
  • CiNii Research ID : 1390282763118333824

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