招待有り 2022年3月9日 NO窒化処理を施した非基底面SiC MOSデバイスの信頼性 (一社)電気学会 電子デバイス研究会 中沼貴澄, 小林拓真, 染谷満, 岡本光央, 吉越章隆, 細井卓治, 志村考功, 渡部平司 開催年月日 2022年3月9日 - 2022年3月9日 記述言語 日本語 会議種別 口頭発表(招待・特別)