講演・口頭発表等

招待有り
2022年3月9日

NO窒化処理を施した非基底面SiC MOSデバイスの信頼性

(一社)電気学会 電子デバイス研究会
  • 中沼貴澄
  • ,
  • 小林拓真
  • ,
  • 染谷満
  • ,
  • 岡本光央
  • ,
  • 吉越章隆
  • ,
  • 細井卓治
  • ,
  • 志村考功
  • ,
  • 渡部平司

開催年月日
2022年3月9日 - 2022年3月9日
記述言語
日本語
会議種別
口頭発表(招待・特別)