中西英俊 (Hidetoshi Nakanishi) - マイポータル

基本情報

学位: 博士（工学）(大阪大学)

研究者番号: 30621221
ORCID iD: https://orcid.org/0000-0003-3236-7328
J-GLOBAL ID: 202101019584935142
researchmap会員ID: R000029654

研究キーワード

研究分野

経歴

2024年7月 - 現在

大阪大学, 大学院工学研究科 SCREEN未来協働研究所, 特任教授
2024年5月 - 現在

京都大学, 大学院エネルギー科学研究科エネルギー応用科学専攻
2021年7月 - 2024年2月

大阪大学, レーザー科学研究所, 特任教授
1986年4月 - 2021年6月

株式会社SCREENホールディングス（旧：大日本スクリーン製造株式会社）

主要な論文

Probing the surface potential of SiO2/4H-SiC(0001) by terahertz emission spectroscopy

Hidetoshi Nakanishi, Tatsuhiko Nishimura, Iwao Kawayama, Masayoshi Tonouchi, Takuji Hosoi, Takayoshi Shimura, Heiji Watanabe

Journal of Applied Physics 130(11) 115305-1-115305-7 2021年9月21日査読有り筆頭著者
Ultrafast spatiotemporal photocarrier dynamics near GaN surfaces studied by terahertz emission spectroscopy

Kota Yamahara, Abdul Mannan, Iwao Kawayama, Hidetoshi Nakanishi, Masayoshi Tonouchi

Scientific Reports 10(1) 14633 -1-14633 -10 2020年12月査読有り
Terahertz Emission Spectroscopy and Microscopy on Ultrawide Bandgap Semiconductor β-Ga2O3

Hao Jiang, Chen Gong, Tatsuhiko Nishimura, Hironaru Murakami, Iwao Kawayama, Hidetoshi Nakanishi, Masayoshi Tonouchi

Photonics 7(3) 73-1-73-11 2020年9月14日査読有り
Noncontact evaluation of electrical passivation of oxidized silicon using laser terahertz emission microscope and corona charging

T. Mochizuki, A. Ito, H. Nakanishi, K. Tanahashi, I. Kawayama, M. Tonouchi, K. Shirasawa, H. Takato

Journal of Applied Physics 125(15) 151615-1-151615-7 2019年4月21日査読有り
Control of dipole properties in high-k and SiO2 stacks on Si substrates with tricolor superstructure

Yasushi Hotta, Iwao Kawayama, Shozo Miyake, Ikuya Saiki, Shintaro Nishi, Kota Yamahara, Koji Arafune, Haruhiko Yoshida, Shin-ichi Satoh, Naomi Sawamoto …

Applied Physics Letters 113(1) 012103-1-012103-5 2018年7月2日査読有り
Probing the surface potential of oxidized silicon by assessing terahertz emission

Toshimitsu Mochizuki, Akira Ito, Jonathon Mitchell, Hidetoshi Nakanishi, Katsuto Tanahashi, Iwao Kawayama, Masayoshi Tonouchi, Katsuhiko Shirasawa, Hidetaka Takato

Applied Physics Letters 110(16) 163502-1-163502-5 2017年4月17日査読有り
Polarization imaging of imperfect m-plane GaN surfaces

Yuji Sakai, Iwao Kawayama, Hidetoshi Nakanishi, Masayoshi Tonouchi

APL Photonics 2(4) 041304-1-041304-5 2017年4月査読有り
Visualization of Photoexcited Carrier Responses in a Solar Cell Using Optical Pump—Terahertz Emission Probe Technique

Hidetoshi Nakanishi, Akira Ito, Kazuhisa Takayama, Iwao Kawayama, Hironaru Murakami, Masayoshi Tonouchi

Journal of Infrared, Millimeter, and Terahertz Waves 37(5) 498-506 2016年5月査読有り筆頭著者
Visualization of GaN surface potential using terahertz emission enhanced by local defects

Yuji Sakai, Iwao Kawayama, Hidetoshi Nakanishi, Masayoshi Tonouchi

Scientific Reports 5(1) 13860-1-13860-6 2015年11月査読有り
Comparison between laser terahertz emission microscope and conventional methods for analysis of polycrystalline silicon solar cell

Hidetoshi Nakanishi, Akira Ito, Kazuhisa Takayama, Iwao Kawayama, Hironaru Murakami, Masayoshi Tonouchi

AIP Advances 5(11) 117129-1-117129-8 2015年11月査読有り筆頭著者
Laser terahertz emission microscopy studies of a polysilicon solar cell under the illumination of continuous laser light

Khandoker A. Salek, Hidetoshi Nakanishi, Akira Ito, Iwao Kawayama, Hironaru Murakami, Masayoshi Tonouchi

Optical Engineering 53(3) 031204-1-031204-6 2013年11月5日査読有り
Imaging of a Polycrystalline Silicon Solar Cell Using a Laser Terahertz Emission Microscope

Hidetoshi Nakanishi, Shogo Fujiwara, Kazuhisa Takayama, Iwao Kawayama, Hironaru Murakami, Masayoshi Tonouchi

Applied Physics Express 5(11) 112301-1-112301-3 2012年10月22日査読有り筆頭著者
Design Consideration for Guided-Wave Light Modulators with Coplanar Waveguide Type Electrodes

Masayuki IZUTSU, Hidetoshi NAKANISHI, Tadasi SUETA

IEICE TRANSACTIONS E69(4) 415-417 1986年4月25日査読有り

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主要なMISC

SCREEN未来協働研究所の設立と今後の展望

中西英俊, 真田雅和, 芝原正彦

生産と技術 77(4) 90-94 2025年10月筆頭著者
レーザーテラヘルツ放射顕微鏡を利用した半導体材料・デバイス評価技術の開発

中西英俊

OPTRONICS 36 108 2017年11月筆頭著者
レーザー誘起テラヘルツ波放射を用いたGaNの評価

酒井裕司, 川山巌, 中西英俊, 斗内政吉

電子情報通信学会技術研究報告:信学技報, vol. 115, no. 387, ED2015-106 89-92 2015年12月
レーザーテラヘルツエミッション顕微鏡を用いた太陽電池計測技術

中西英俊

生産と技術 65(4) 61-64 2013年筆頭著者
レーザーテラヘルツエミッション顕微鏡を用いた太陽電池評価技術の開発

川山巌, 中西英俊, 伊藤明, Salek Abu, 高山和久, 村上博成, 斗内政吉

電子情報通信学会技術研究報告 : 信学技報, vol. 112, no. 364, ED2012-109 112(364) 89-92 2012年12月17日
テラヘルツ波利用により太陽電池の発電状態を可視化

中西英俊, 斗内政吉

OHM 8 2 2012年筆頭著者
テラヘルツ波を利用した太陽電池特性計測技術

中西英俊, 斗内政吉

検査技術 12 59 2012年筆頭著者
フェムト秒レーザーを用いた太陽電池特性の局所評価

中西英俊, 斗内政吉

レーザー加工学会誌 19 62 2012年筆頭著者

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主要な講演・口頭発表等

レーザーテラヘルツ放射顕微鏡(LTEM)を利用した半導体材料・デバイス評価

中西英俊

H30年度第2回プリンテッド・エレクトロニクス研究会 2018年7月27日招待有り
レーザーテラヘルツ放射顕微鏡を利用した半導体材料・デバイス評価

中西英俊

月刊オプトロニクスセミナー『テラヘルツ波利用の幕明け』 2018年2月16日招待有り
Observation of 4H-SiC Wafers and a SiC Photodiode Using a Laser Terahertz Emission Microscope

H. Nakanishi, T. Nishimura, F. Kitamura, K. Fujita, M. Mizubata, I. Kawayama, M. Tonouchi

MTSA2017-OptoX Nano-TeraNano8 2017年11月招待有り
レーザーテラヘルツ放射顕微鏡を利用した半導体材料・デバイス評価

中西英俊

応用物理学会・テラヘルツ電磁波技術研究会 2017年第一回研究会 2017年5月26日招待有り
LTEM技術を利用した太陽電池評価装置の開発

中西英俊

平成28年度テラヘルツ波産業応用研究会 2016年11月28日招待有り
レーザーテラヘルツエミッション顕微鏡(LTEM)技術を用いた太陽電池評価実証機開発

中西英俊

第8回テラテクビジネスセミナー (THz-biz2016) 2016年9月14日招待有り
テラヘルツ技術を活用した太陽電池評価システムの装置化

中西英俊, 伊藤明, 水端稔, 川山巌, 村上博成, 斗内政吉

平成27年度光ビームプラットフォーム報告会 2016年1月25日招待有り
A Demonstration System Based on Laser Terahertz Emission Microscope for a Solar Cell

H. Nakanishi, M. Mizubata, A. Ito, I. Kawayama, H. Murakami, M. Tonouchi

Tenanano 2015 2015年7月
レーザーテラヘルツエミッション顕微鏡(LTEM)による太陽電池検査実証機開発

中西英俊, 水端稔, 伊藤明, 川山巌, 村上博成, 斗内政吉

第12回テラヘルツ電磁波産業利用研究会 2015年3月26日招待有り
Effect of White Light Illumination on Terahertz Emission from Solar Cell Investigated by Laser Terahertz Emission Microscope

H. Nakanishi, A. Ito, K. A. Salek, K. Takayama, I. Kawayama, H. Murakami, M. Tonouchi

OTST2013 2013年4月
テラヘルツ放射顕微鏡を用いた太陽電池評価システムの開発

中西英俊, 伊藤明, K.A.Salek, 高山和久, 川山, 巌, 村上博成, 斗内政吉

第4回京都SMI産学公連携セミナー「テラヘルツ波が開くメゾ空間の計測分析技術」“テラヘルツ分析の基礎と応用（１） 2013年2月22日招待有り
テラヘルツ放射顕微鏡を用いた太陽電池評価システムの開発

中西英俊, 伊藤明, K.A.Salek, 高山和久, 川山巌, 村上博成, 斗内政吉

第一回高強度レーザー施設共用促進セミナー“テラヘルツ分析の基礎と応用（１） 2012年12月17日招待有り
Development of a Terahertz Imaging System for the Analysis of a Solar Cell

H. Nakanishi, K. A. Salek, A. Ito, K. Takayama, I. Kawayama, H. Murakami, M Tonouchi

TeraNano2012 2012年7月
Observations of Terahertz Waves from Solar Cell Using Laser Terahertz Emission Microscopy

H. Nakanishi, S. Fujiwara, K. Takayama, I. Kawayama, H. Murakami, M.Tonouchi

TeraNano2011 2011年11月招待有り

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担当経験のある科目(授業)

2014年 - 2019年

機械計測（計測工学）特別講義 (徳島大学理工学部理工学科機械科学コース)

所属学協会

応用物理学会

主要な産業財産権

特許5804362,EP:2546634,US:8872114 検査装置および検査方法

中西英俊, 斗内政吉
特許5904530,EP:2607945,US:8530868 電磁波発生素子、電磁波発生装置および電磁波発生方法

中西英俊, 斗内政吉
特許5892597,EP:2631635,US:9103870 検査装置および検査方法

中西英俊, 斗内政吉, 川山巌
特許6078870,US:9234934 検査装置および検査方法

中西英俊, 伊藤明, 斗内政吉, 川山巌
特許6245545,EP:2772750,US:9151669 検査装置および検査方法

伊藤明, 中西英俊, 斗内政吉, 川山巌
特許6044893,EP:2775288,US:9541508 検査装置および検査方法

中西英俊, 伊藤明, 斗内政吉, 川山巌
特許6406656,EP:2840382,US:9383321 検査装置および検査方法

中西英俊, 伊藤明, 川山巌, 斗内政吉
特許6418542,US:10158325 検査装置および検査方法

中西英俊, 伊藤明, 川山巌, 斗内政吉
特許6395213,US:10001441 改質処理装置、改質モニター装置および改質処理方法

中西英俊, 伊藤明, 川山巌, 斗内政吉, 酒井裕司

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