論文

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2017年

Scalable Device Array for Statistical Characterization of BTI-Related Parameters.

IEEE Trans. Very Large Scale Integr. Syst.

Hiromitsu Awano
Shumpei Morita
Takashi Sato

巻: 25
号: 4
開始ページ: 1455
終了ページ: 1466
記述言語
掲載種別: 研究論文（学術雑誌）
DOI: 10.1109/TVLSI.2016.2638021

リンク情報

DOI: https://doi.org/10.1109/TVLSI.2016.2638021
DBLP: https://dblp.uni-trier.de/rec/journals/tvlsi/AwanoMS17
URL: http://doi.ieeecomputersociety.org/10.1109/TVLSI.2016.2638021
Dblp Url: https://dblp.uni-trier.de/db/journals/tvlsi/tvlsi25.html#AwanoMS17

ID情報

DOI : 10.1109/TVLSI.2016.2638021
DBLP ID : journals/tvlsi/AwanoMS17

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