2016年
Workload-Aware Worst Path Analysis of Processor-Scale NBTI Degradation.
Proceedings of the 26th edition on Great Lakes Symposium on VLSI, GLVLSI 2016, Boston, MA, USA, May 18-20, 2016
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- 開始ページ
- 203
- 終了ページ
- 208
- 記述言語
- 掲載種別
- 研究論文（国際会議プロシーディングス）
- DOI
- 10.1145/2902961.2903013
- 出版者・発行元
- ACM
- リンク情報
- ID情報
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- DOI : 10.1145/2902961.2903013
- DBLP ID : conf/glvlsi/BianSMAHS16