バルク電流やバーストといった外乱注入により発生した暗号FPGAの誤動作に関して考察した。特に発生した誤動作の直接原因がクロックグリッチの場合について、まず、外乱によりFPGAのクロック配線にグリッチが重畳することを実験により検証した。次に、発生した誤動作をグリッチ付クロックをFPGAに直接与える構成において再現し、回路動作とグリッチの関係を検証した。以上の実験結果に基づき、外乱によりクロックグリッチが発生した場合の誤動作発生機構、および評価環境における誤動作発生確率を示した。