査読有り 招待有り 2020年4月 X線回折ラインプロファイル解析による微視組織評価法 2.放射光を用いたラインプロファイル解析 材料 菖蒲 敬久, 城 鮎美, 吉田 裕 巻 69 号 4 開始ページ 345 終了ページ 349 記述言語 日本語 掲載種別 リンク情報 J-GLOBALhttps://jglobal.jst.go.jp/detail?JGLOBAL_ID=202002220089533220 ID情報 ISSN : 0514-5163J-Global ID : 202002220089533220 エクスポート BibTeX RIS