論文

査読有り 招待有り
2020年4月

X線回折ラインプロファイル解析による微視組織評価法 2.放射光を用いたラインプロファイル解析

材料
  • 菖蒲 敬久
  • ,
  • 城 鮎美
  • ,
  • 吉田 裕

69
4
開始ページ
345
終了ページ
349
記述言語
日本語
掲載種別

リンク情報
J-GLOBAL
https://jglobal.jst.go.jp/detail?JGLOBAL_ID=202002220089533220
ID情報
  • ISSN : 0514-5163
  • J-Global ID : 202002220089533220

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