産業財産権

特許権

光ファイバ特性測定装置及び光ファイバ特性測定方法

国立大学法人 東京大学
  • 保立 和夫
  • ,
  • 岸 眞人
  • ,
  • 姚 雨果

出願番号
特願2016-023525
出願日
2016年2月10日
公開番号
特開2016-148661
公開日
2016年8月18日

リンク情報
J-GLOBAL
https://jglobal.jst.go.jp/detail?JGLOBAL_ID=201603012521156774
ID情報
  • J-Global ID : 201603012521156774