産業財産権

特許権

光ファイバ特性測定装置及び方法

保立 和夫, 三菱重工業株式会社, 横河電機株式会社
  • 保立 和夫
  • ,
  • 鎗 孝志
  • ,
  • 石岡 昌人
  • ,
  • 熊谷 芳宏
  • ,
  • 大石 和司

出願番号
特願2008-039960
出願日
2008年2月21日
公開番号
特開2009-198300
公開日
2009年9月3日

リンク情報
J-GLOBAL
https://jglobal.jst.go.jp/detail?JGLOBAL_ID=200903007050767639
ID情報
  • J-Global ID : 200903007050767639