VLSIの製造プロセスの微細化に伴い,非同期式回路が注目されている.非同期式回路の実現方法として,同期式回路から非同期式回路へ変換する手法が提案されている.本稿では,この同期-非同期変換によって実現された非同期式QDI(Quasi Delay Insensitive)回路に対するDFT手法およびテスト手法を提案する.既存手法のテストは,変換によって非冗長となる故障が検出できないという問題がある.提案手法では,縮退故障を故障の箇所に応じて5つに分類し,それぞれのタイプに対してDFTを行うことで100%の故障検出率を保証する.評価実験では,ベンチマーク回路に対して提案手法を適用し100%を達成することを確認した.また,DFTによる面積の増加率も検証した.