CR-39を用いた高強度高エネルギーイオンビームに対する簡易診断法を開発した。適切な散乱体の上に重ねたCR-39に対して、加速器にてHeイオンをエネルギー及びフルエンスともに検出閾値以上の条件で照射した。多段階エッチング法により解析を行った結果、CR-39の裏面には後方散乱粒子によってエッチピットが形成されていることが明らかとなった。また、裏面のエッチピットの分布すなわち後方散乱粒子を利用して高エネルギーイオンビームの診断が可能であることを確認した。この手法を、クラスターターゲットを用いたレーザー駆動イオン加速実験に適用し、50MeV/nのHeイオンの検出に成功した。