MISC

2009年

高速重イオンを用いた低真空SIMSの開発

表面科学学術講演会要旨集
  • 若松 慶信
  • ,
  • 山田 英丙
  • ,
  • 中田 由彦
  • ,
  • 二宮 啓
  • ,
  • 瀬木 利夫
  • ,
  • 青木 学聡
  • ,
  • 松尾 二郎

29
0
開始ページ
35
終了ページ
35
記述言語
日本語
掲載種別
出版者・発行元
公益社団法人 日本表面科学会

近年、生体試料における質量イメージング技術の発展が期待されている。SIMSは高真空下での分析手法であるが、高速重イオンをプローブとすることにより低真空下でのSIMSに成功した。本発表では、数千Pa程度の低真空下で質量イメージングを行うための分析系の開発とその結果について報告する。

リンク情報
CiNii Articles
http://ci.nii.ac.jp/naid/130004674238
ID情報
  • CiNii Articles ID : 130004674238
  • identifiers.cinii_nr_id : 9000003434567

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