小野田穣 (Jo Onoda) - マイポータル

基本情報

所属: 福岡教育大学教育学部理科教育研究ユニット講師

研究者番号: 30647061
ORCID iD: https://orcid.org/0000-0003-4906-2571
J-GLOBAL ID: 202301003906238990
researchmap会員ID: R000059592

外部リンク: https://kenkyujoho.fukuoka-edu.ac.jp/utefhp/KgApp?resId=S000201

受賞

2022年3月

第16回（2022年）日本物理学会若手奨励賞
2020年11月

講演奨励賞（若手研究者部門）、2020年日本表面真空学会学術講演会
2017年3月

第42回（2017年春季）応用物理学会講演奨励賞、第64回応用物理学会春季学術講会
2016年12月

ICSPM Poster Award
2016年11月

講演奨励賞（新進研究者部門）、第36回表面科学学術講演会

論文

Electronic Control of Silicon Surface Atomic Structures with Two-Probe Scanning Tunneling Microscopy

Jo Onoda, Lucian Livadaru, Robert A. Wolkow, Jason Pitters

ACS Nano 2025年8月19日
A Comparative STM Investigation of Hydrogen, Oxygen, and Air Plasma Pretreatments for Reduced-Temperature (1050 °C) Flash Annealing of Silicon (100) Substrates

Ali Khademi, Jo Onoda, Robert A. Wolkow, Jason Pitters

Vacuum 2025年8月5日
Ohmic Contact to Two-Dimensional Nanofabricated Silicon Structures with a Two-Probe Scanning Tunneling Microscope

Jo Onoda, Ali Khademi, Robert A. Wolkow, Jason Pitters

ACS Nano 2021年11月15日
In Situ Reproducible Sharp Tips for Atomic Force Microscopy

Jo Onoda, Tsuyoshi Hasegawa, Yoshiaki Sugimoto

Physical Review Applied 15(3) 2021年3月26日
Consistent probe spacing in multi-probe STM experiments

Jo Onoda, Doug Vick, Mark Salomons, Robert Wolkow, Jason Pitters

AIP Advances 2020年10月1日
Chemical Identification of the Foremost Tip Atom in Atomic Force Microscopy

Jo Onoda, Hiroki Miyazaki, Yoshiaki Sugimoto

Nano Letters 20(3) 2000-2004 2020年3月11日
Less-ordered structures of silicene on Ag(111) surface revealed by atomic force microscopy

Jo Onoda, Lingyu Feng, Keisuke Yabuoshi, Yoshiaki Sugimoto

Physical Review Materials 3(10) 2019年10月24日
Force spectroscopy using a quartz length-extension resonator

Yoshiaki Sugimoto, Jo Onoda

Applied Physics Letters 115(17) 173104-173104 2019年10月21日
Charging of electron beam irradiated amorphous carbon thin films at liquid nitrogen temperature

Simon Hettler, Jo Onoda, Robert Wolkow, Jason Pitters, Marek Malac

Ultramicroscopy 196 161-166 2019年1月
Structural identification of silicene on the Ag(111) surface by atomic force microscopy

Lingyu Feng, Keisuke Yabuoshi, Yoshiaki Sugimoto, Jo Onoda, Masahiro Fukuda, Taisuke Ozaki

Physical Review B 98(19) 2018年11月21日
単原子の電気陰性度の計測

Jo Onoda

応用物理 2018年9月10日
High-resolution imaging of silicene on an Ag(111) surface by atomic force microscopy

Jo Onoda, Keisuke Yabuoshi, Hiroki Miyazaki, Yoshiaki Sugimoto

Physical Review B 96(24) 2017年12月11日
Electronegativity determination of individual surface atoms by atomic force microscopy

Jo Onoda, Martin Ondr{\'{a } }{\v{c } }ek, Pavel Jel{\'{\i } }nek, Yoshiaki Sugimoto

Nature Communications 8(1) 2017年4月
Electronegativity Determination of Single Atoms by Atomic Force Microscopy

Jo ONODA, Martin ONDR, Aacute$\mathsemicolon${\&}Ccaron$\mathsemicolon$EK, Pavel JEL, Iacute$\mathsemicolon$NEK, Yoshiaki SUGIMOTO

Hyomen Kagaku 38(7) 341-346 2017年
The local electronic properties of individual Pt atoms adsorbed on TiO2(110) studied by Kelvin probe force microscopy and first-principles simulations

Ayhan Yurtsever, Delia Fern{\'{a } }ndez-Torre, Jo Onoda, Masayuki Abe, Seizo Morita, Yoshiaki Sugimoto, Rub{\'{e, e } }rez

Nanoscale 9(18) 5812-5821 2017年
Titanium Dioxide Surfaces Investigated by Atomic Force Microscopy

Jo ONODA, Ayhan YURTSEVER, Masayuki ABE, Yoshiaki SUGIMOTO

Hyomen Kagaku 38(8) 413-418 2017年
Graphene: Effects of Pb Intercalation on the Structural and Electronic Properties of Epitaxial Graphene on SiC (Small 29/2016)

Ayhan Yurtsever, Jo Onoda, Takushi Iimori, Kohei Niki, Toshio Miyamachi, Masayuki Abe, Seigi Mizuno, Satoru Tanaka, Fumio Komori, Yoshiaki Sugimoto

Small 12(29) 3882-3882 2016年8月査読有り
Effects of Pb Intercalation on the Structural and Electronic Properties of Epitaxial Graphene on SiC

Ayhan Yurtsever, Jo Onoda, Takushi Iimori, Kohei Niki, Toshio Miyamachi, Masayuki Abe, Seigi Mizuno, Satoru Tanaka, Fumio Komori, Yoshiaki Sugimoto

Small 12(29) 3956-3966 2016年8月
Imaging the TiO2(011)-(2 × 1) Surface using Noncontact Atomic Force Microscopy and Scanning Tunneling Microscopy

Ayhan Yurtsever, Jo Onoda, Masayuki Abe, Chi Lun Pang, Yoshiaki Sugimoto

The Journal of Physical Chemistry C 120(6) 3390-3395 2016年2月18日
Identification of Si and Ge Atoms by Non-Contact Atomic Force Microscopy

Jo ONODA, Kohei NIKI, Yoshiaki SUGIMOTO

Hyomen Kagaku 37(7) 304-309 2016年

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共同研究・競争的資金等の研究課題

原子間力顕微鏡による二次元ハニカム格子状の単層SiGeの探索

日本学術振興会科学研究費助成事業若手研究(B) 2016年4月 - 2018年3月

小野田穣
原子間力顕微鏡による単原子の力学的な元素識別

日本学術振興会科学研究費助成事業特別研究員奨励費 2014年4月 - 2017年3月

小野田穣