Industrial Property Rights

Patent

1台の放射線検出器で同時計数測定を行うことにより高感度で核種を分析する方法

日本原子力研究所
  • 大島 真澄
    • ,
  • 藤 暢輔
    • ,
  • 小泉 光生
    • ,
  • 木村 敦
    • ,
  • 後藤 淳
Application no.
特願2003-345212
Date applied
Oct 3, 2003
Announcement no.
特開2005-114387
Date announced
Apr 28, 2005
Link information
J-GLOBAL
https://jglobal.jst.go.jp/en/detail?JGLOBAL_ID=200903020669633471
URL
http://jglobal.jst.go.jp/public/200903020669633471
ID information
  • J-Global ID : 200903020669633471
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