本研究はシリコンストリップ検出器を用いた小型の陽子線断層写真撮影装置を開発すること、および、開発した装置を用いた実験的基礎研究を行い基礎データの収集と本手法による測定原理の検証を目的として実施した。測定対象物の上流側と下流側それぞれに位置検出型のシリコン検出器を二組ずつ配置し、最後部に残留エネルギー測定用のNaI(Tl)検出器を配した測定装置を開発した。陽子線ビームを用いた実験を行い、簡単な形状の物体の二次元像を測定した。上流側と下流側の陽子線の軌跡を独立して測定する事は、二次元像の位置分解能の向上に有用であることが分かった。