論文

査読有り筆頭著者

2017年7月

Improving Faulty Interaction Localization Using Logistic Regression

2017 IEEE International Conference on Software Quality, Reliability and Security (QRS)

Kinari Nishiura
Eun-Hye Choi
Osamu Mizuno

記述言語
掲載種別: 研究論文（国際会議プロシーディングス）
DOI: 10.1109/qrs.2017.24
出版者・発行元: IEEE

リンク情報

DOI: https://doi.org/10.1109/qrs.2017.24
URL: http://xplorestaging.ieee.org/ielx7/8008606/8009890/08009917.pdf?arnumber=8009917

ID情報

DOI : 10.1109/qrs.2017.24

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