上田啓市 (Ueda Keiichi) - マイポータル

基本情報

所属: 地方独立行政法人東京都立産業技術研究センター研究開発本部情報システム技術部通信技術グループ副主任研究員

学位: 博士(工学)(2024年3月大阪大学大学院)

研究者番号: 70838440
J-GLOBAL ID: 201801007967215140
researchmap会員ID: B000318593

研究分野

ナノテク・材料 / 薄膜、表面界面物性 /

経歴

2024年4月 - 現在

地方独立行政法人東京都立産業技術研究センター, 研究開発本部情報システム技術部通信技術グループ, 副主任研究員
2018年10月 - 現在

東京都立産業技術研究センター, 情報技術グループ, 研究員
2012年4月 - 2018年8月

富士通株式会社

学歴

2019年4月 - 2024年3月

大阪大学, 基礎工学研究科, システム創成専攻
2010年4月 - 2012年3月

大阪大学大学院, 工学研究科, 電気電子情報工学専攻

論文

Estimation of 28 GHz Band Wave Propagation using Machine Learning

Yuta Watanabe, Keiichi Ueda

International Journal of Applied Electromagnetics and Mechanics 2025年10月
AI‐Equipped Scanning Probe Microscopy for Autonomous Site‐Specific Atomic‐Level Characterization at Room Temperature

Zhuo Diao, Keiichi Ueda, Linfeng Hou, Fengxuan Li, Hayato Yamashita, Masayuki Abe

Small Methods 2024年9月6日
Existence probabilities of single Si atoms diffusing in Si(111)-(7 × 7) half-unit cells at room temperature

K. Ueda, Z. Diao, L. Hou, H. Yamashita, M. Abe

Applied Physics Letters 2024年7月22日
Feature correlation method for image reconstruction evaluation in under-sampled scanning probe microscopy

Keiichi Ueda, Zhuo Diao, Linfeng Hou, Hayato Yamashita, Masayuki Abe

Japanese Journal of Applied Physics 2024年4月1日
Time-reduction imaging method for scanning-probe microscopy using a compressed sensing algorithm based on sequential reconstruction method

Keiichi Ueda, Diao Zhuo, Linfeng Hou, Hayato Yamashita, Masayuki Abe

Journal of the Ceramic Society of Japan 131(10) 645-650 2023年10月1日
Automatic drift compensation for nanoscale imaging using feature point matching

Zhuo Diao, Keiichi Ueda, Linfeng Hou, Hayato Yamashita, Oscar Custance, Masayuki Abe

Applied Physics Letters 2023年3月20日
ナノクラスターを利用した室温スイッチ素子の創成

稲見栄一, 浜田幾太郎, 上田啓一, 阿部真之, 森田清三, 杉本宜昭

表面科学学術講演会要旨集 36 409-409 2016年
走査プローブ顕微鏡を用いた原子スイッチの組立と制御

稲見栄一, 浜田幾太郎, 上田啓一, 阿部真之, 森田清三, 杉本宜昭

日本物理学会講演概要集 71 2330-2330 2016年
Room-temperature-concerted switch made of a binary atom cluster

Eiichi Inami, Ikutaro Hamada, Keiichi Ueda, Masayuki Abe, Seizo Morita, Yoshiaki Sugimoto

NATURE COMMUNICATIONS 6(6231) 2015年2月査読有り
走査型プローブ顕微鏡による原子スイッチの組立

稲見栄一, 濱田幾太郎, 上田啓市, 阿部真之, 森田清三, 杉本宜昭

表面科学学術講演会要旨集 35 222-222 2015年
Three-dimensional scanning force/tunneling spectroscopy at room temperature

Yoshiaki Sugimoto, Keiichi Ueda, Masayuki Abe, Seizo Morita

JOURNAL OF PHYSICS-CONDENSED MATTER 24(8) 2012年2月査読有り

講演・口頭発表等

ISAC実現に向けたミリ波ローカル5Gによる動作物認識

上田啓市, 渡部雄太

2026年電子情報通信学会総合大会 2026年3月11日
ローカル5G基地局を用いた動作物検知手法の開発

上田啓市, 渡部雄太

2025年電子情報通信学会総合大会 2025年3月25日
Analysis of Si atom diffusion on Si(111)-(7x7) with multiple scanning tunneling microscopy images

K.Ueda, Z.Diao, L.Hou, H.Yamashita, M.Abe

31st international colloquium on scanning probe microscopy 2023年12月7日
Surface information detection of scanning probe microscopy topography data via Composite Network

Z.Diao, K.Ueda, H.Yamashita, M.Abe

36th International Microprocesses and Nanotechnology Conference 2023年11月16日
Evaluation Methods for Under-Sampled Scanning Probe Microscopy with Feature Correlation

Keiichi Ueda, Zhuo Diao, Linfeng Hou, Hayato Yamashita, Masayuki Abe

36th international microprocesses and nanotechnology conference 2023年11月16日
特徴点マッチングを用いた走査型プローブ顕微鏡イメージングの熱ドリフト自動補正

Diao Zhuo, 上田啓市, Hou Linfeng, 山下隼人, Oscar Custance, 阿部真之

日本金属学会 2023 年秋期（第 173 回）講演大会 (2023)
Undersampled SPMに関する評価手法の開発

上田啓市, Zhuo Diao, Hou Linfeng, 山下隼人, 阿部真之

日本顕微鏡学会第79回学術講演会 2023年6月27日
圧縮センシングを応用した時間短縮SPMの開発

上田啓市, Diao Zhuo, Hou Linfeng, 山下隼人, 阿部真之

第70回応用物理学会春季学術講演会 2023年3月16日
特徴点マッチングを用いたナノスケールイメージングに向けた自動ドリフト補正システム

Diao Zhuo, 上田啓市, Hou Linfeng, 山下隼人, Custance Oscar, 阿部真之

第70 回応用物理学会春季学術講演会 (2023)
Automatic thermal drift compensation for scanning microscopy using the feature point extraction

Zhuo Diao, Keiichi Ueda, Linfeng Hou, Hayato Yamashita, Oscar Custance, Masayuki Abe

14th International Symposium on Atomic Level Characterization for New Material and Devices ’22
Under-sampled imaging method of scanning tunneling microscopy with compressed sensing algorithm

Keiichi Ueda, Zhuo Diao, Linfeng Hou, Hayato Yamashita, Masayuki Abe

29th international colloquium on scanning probe microscopy 2021年12月9日
Si(111)-7x7AFM表面像のディープラーニングによる認識

上田啓市, 阿部真之

日本顕微鏡学会第62回シンポジウム 2019年11月29日
Room-temperature chiral switch assembled by atom manipulation

Eiichi Inami, Ikutaro Hamada, Keiichi Ueda, Masayuki Abe, Seizo Morita, Yoshiaki Sugimoto

6th Spin-Polarized Scanning Tunneling Microscopy International Conference (2016)
Chiral Switch Operated at Room Temperature

Eiichi Inami, Ikutaro Hamada, Keiichi Ueda, Masayuki Abe, Seizo Morita, Yoshiaki Sugimoto

23rd International Colloquium on Scanning Probe Microscopy（2015）
Chiral Switch Operated at Room Temperature

Eiichi Inami, Ikutaro Hamada, Keiichi Ueda, Masayuki Abe, Seizo Morita, Yoshiaki Sugimoto

International Workshop on Molecular Architectonics（2015）
Atom Switch Assembled by Atom Manipulation

Eiichi Inami, Ikutaro Hamada, Keiichi Ueda, Masayuki Abe, Seizo Morita, Yoshiaki Sugimoto

NIMS Con- ference（2015）
Room Temperature Chiral Switch of Nanocluster Created by Atom Manipulation

Eiichi Inami, Ikutaro Hamada, Keiichi Ueda, Masayuki Abe, Seizo Morita, Yoshiaki Sugimoto

The 7th International Symposium on Surface Science (ISSS- 7)（2014）
Fabrication and Oper- ation of Atomic Switch of Pb Cluster on Si(111)-(7x7) Surface with a Combined AFM/STM at Room Temperature

E.Inami, K.Ueda, Y.Sugimoto, M.Abe, S.Morita

20th International Colloquium on Scanning Probe Microscopy
Si(111)-7x7表面上におけるAFM/STMを用いた3D force mappingによる同時測定

上田啓市, 杉本宜昭, 阿部真之, 森田清三

日本金属学会2011年秋期講演(第149回)大会 2011年11月7日
Simultaneous Force and Current Mapping of the Si(111)-(7 × 7) Surface by Dynamic Force Microscopy

K.Ueda, D.Sawada, Y.Sugimoto, M.Abe, S.Morita

18th International Colloquium on Scanning Probe Microscopy

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