査読有り 2015年 Multi-layer Method combined with Nano-indentation, FIB and XTEM for Nano-hardness Measurement MICROSCOPY Oxford R. Kurishiba, T. Endo, N. Miyazaki, Y. Wang, H. Oka, Y. Sato, A. Sawa, N. Hashimoto, S. Ohnuki 巻 64 号 開始ページ I119 終了ページ 記述言語 英語 掲載種別 研究論文(学術雑誌) エクスポート BibTeX RIS