特許権 半導体検証装置 ルネサスエレクトロニクス株式会社 原田 正明, 金本 俊幾 出願番号 特願2008-273160 出願日 2008年10月23日 公開番号 特開2010-102498 公開日 2010年5月6日 特許番号/登録番号 特許第5129085号 登録日 発行日 2012年11月9日 リンク情報 J-GLOBALhttps://jglobal.jst.go.jp/detail?JGLOBAL_ID=201303016594656093URLhttp://jglobal.jst.go.jp/public/201303016594656093 ID情報 J-Global ID : 201303016594656093