論文

査読有り 筆頭著者 責任著者
2019年8月1日

Defect-induced electronic structures on SnSe surfaces

JAPANESE JOURNAL OF APPLIED PHYSICS
  • Asakawa Kanta
    • ,
  • Oguro Fumikazu
    • ,
  • Yoshida Yasuo
    • ,
  • Sakai Hideaki
    • ,
  • Hanasaki Noriaki
    • ,
  • Hasegawa Yukio
巻
58
号
0
開始ページ
SIIA06
終了ページ
SIIA06
記述言語
英語
掲載種別
研究論文（学術雑誌）
DOI
10.7567/1347-4065/ab147d
出版者・発行元
Japan Society of Applied Physics
リンク情報
DOI
https://doi.org/10.7567/1347-4065/ab147d
CiNii Articles
http://ci.nii.ac.jp/naid/210000156432
Web of Science
https://gateway.webofknowledge.com/gateway/Gateway.cgi?GWVersion=2&SrcAuth=JSTA_CEL&SrcApp=J_Gate_JST&DestLinkType=FullRecord&KeyUT=WOS:000478967400009&DestApp=WOS_CPL
ID情報
  • DOI : 10.7567/1347-4065/ab147d
  • ISSN : 0021-4922
  • eISSN : 1347-4065
  • CiNii Articles ID : 210000156432
  • identifiers.cinii_nr_id : 9000403020087
  • Web of Science ID : WOS:000478967400009
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