論文

査読有り
2020年8月

Flash X-ray backlight technique using a Fresnel phase zone plate for measuring interfacial instability

High Energy Density Physics
  • Kazuki Matsuo
  • ,
  • Takayoshi Sano
  • ,
  • Kazuki Ishigure
  • ,
  • Hiroki Kato
  • ,
  • Natsuko Nagamatsu
  • ,
  • Zhu Baojun
  • ,
  • Guo Shuwang
  • ,
  • Hideo Nagatomo
  • ,
  • Nicolai Philippe
  • ,
  • Youichi Sakawa
  • ,
  • Yasunobu Arikawa
  • ,
  • Shohei Sakata
  • ,
  • SeungHo Lee
  • ,
  • King Fai Farley Law
  • ,
  • Hiroki Morita
  • ,
  • Chang Liu
  • ,
  • Huan Li
  • ,
  • Jo Nishibata
  • ,
  • Ryunosuke Takizawa
  • ,
  • Hiroshi Azechi
  • ,
  • Shinsuke Fujioka

36
開始ページ
100837
終了ページ
100837
記述言語
掲載種別
研究論文(学術雑誌)
DOI
10.1016/j.hedp.2020.100837
出版者・発行元
Elsevier BV

リンク情報
DOI
https://doi.org/10.1016/j.hedp.2020.100837
ID情報
  • DOI : 10.1016/j.hedp.2020.100837
  • ISSN : 1574-1818
  • ORCIDのPut Code : 74965768

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