MISC

2020年3月

圧縮センシング技術を用いた蛍光X線イメージングの超解像解析

X線分析の進歩
  • 松山 嗣史
  • ,
  • 山内 葵
  • ,
  • 岩崎 正寛
  • ,
  • 林 和則
  • ,
  • 辻 幸一

51
開始ページ
49
終了ページ
56
記述言語
日本語
掲載種別
出版者・発行元
アグネ技術センター

リンク情報
CiNii Articles
http://ci.nii.ac.jp/naid/40022215485
CiNii Books
http://ci.nii.ac.jp/ncid/AN0000592X
URL
http://id.ndl.go.jp/bib/030374767
ID情報
  • ISSN : 0911-7806
  • CiNii Articles ID : 40022215485
  • CiNii Books ID : AN0000592X

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