産業財産権

特許権

X線吸収微細構造分析方法およびその分析装置

ダイハツ工業株式会社, 独立行政法人 日本原子力研究開発機構, 財団法人高輝度光科学研究センター
  • 田中 裕久
  • ,
  • 上西 真里
  • ,
  • 谷口 昌司
  • ,
  • 水木 純一郎
  • ,
  • 西畑 保雄
  • ,
  • 加藤 和男

出願番号
特願2005-084523
出願日
2005年3月23日
公開番号
特開2006-266829
公開日
2006年10月5日

リンク情報
J-GLOBAL
https://jglobal.jst.go.jp/detail?JGLOBAL_ID=200903062370101176
URL
http://jglobal.jst.go.jp/public/200903062370101176
ID情報
  • J-Global ID : 200903062370101176