三角プリズム/MgF_2/Ag/MEH-PPV/Fullerene(C_<60>)/Al構造の素子を作製し、表面プラズモン(SP)励起を利用した全反射減衰(ATR)法により、光電特性の測定を行った。Ag/MEH-PPV/C_<60>/Alからなる光電素子とプリズム間にプリズムよりも屈折率が小さい無色透明なMgF_2を挿入することにより、Otto配置の構成となるためMgF_2とAgの界面でSPを励起することができる。この構造に対し、ATR特性と短絡光電流(I_<SC>)の測定を同時に行った。MgF_2/Ag界面でSP励起に基づいたATRディップ観測され、そのディップに対応して短絡光電流が増大した。また、各層における光吸収量についてATRカーブから得られた膜厚と誘電率を基に、理論計算を行った。SPが励起している時とSPが励起していない時とを比較すると、有機層における光吸収(λ=514.5nm)がSP励起時で10倍大きくなった。この強い光吸収はSP励起のためであると考えられ、光電変換効率の向上に有用である。