2020年4月20日
Crystalline Characterization of TlBr Semiconductor Detectors Using Wavelength-resolved Neutron Imaging
Sensors and Materials
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- 巻
- 32
- 号
- 4
- 開始ページ
- 1435
- 終了ページ
- 1435
- 記述言語
- 掲載種別
- 研究論文（学術雑誌）
- DOI
- 10.18494/sam.2020.2744
- 出版者・発行元
- MYU K.K.
- ID情報
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- DOI : 10.18494/sam.2020.2744
- ISSN : 0914-4935