MISC

2012年7月26日

10nm径トライゲートナノワイヤMOSFETにおける高電界輸送特性向上と薄BOXによる閾値調整

電子情報通信学会技術研究報告. SDM, シリコン材料・デバイス
  • 太田 健介
  • ,
  • 齋藤 真澄
  • ,
  • 田中 千加
  • ,
  • 内田 建
  • ,
  • 沼田 敏典

112
169
開始ページ
37
終了ページ
42
記述言語
日本語
掲載種別
出版者・発行元
一般社団法人電子情報通信学会

10nm径トライゲートナノワイヤMOSFETを作成し、高性能動作、閾値調整、ばらつきの抑制、自己発熱効果の抑制が可能であることを実験的に示した。ソース/ドレインの最適化とStress memorization technique (SMT)によって、寄生抵抗の低減と移動度向上を実現した。また、SMTによって高電界キャリア速度も向上するため、I_<on>=1mA/μm (I_<off>=100nA/μm)という高いオン電流を達成した。一方、薄BOX上にトライゲートナノワイヤトランジスタを作成し、基板バイアスによって十分に閾値調整が可能であることを実証した。ナノワイヤ幅が小さくなると基板バイアス効果は小さくなるが、ナノワイヤ高さを低くすることによって基板バイアス係数は改善する。また、基板バイアスによって消費電力と性能の動的な制御が可能であることを示した。

リンク情報
CiNii Articles
http://ci.nii.ac.jp/naid/110009627081
CiNii Books
http://ci.nii.ac.jp/ncid/AN10013254
URL
http://id.ndl.go.jp/bib/023935348
ID情報
  • ISSN : 0913-5685
  • CiNii Articles ID : 110009627081
  • CiNii Books ID : AN10013254

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