MISC

2010年3月2日

CT-2-1 歪みによるCMOSデバイスの高性能化(CT-2.ポストCMOSデバイス技術?-III-V MOS,ナノワイヤデバイス,グラフェンデバイス-,チュートリアルセッション,ソサイエティ企画)

電子情報通信学会総合大会講演論文集
  • 内田 建

2010
2
開始ページ
"SS
終了ページ
37"-"SS-40"
記述言語
日本語
掲載種別
出版者・発行元
一般社団法人電子情報通信学会

リンク情報
CiNii Articles
http://ci.nii.ac.jp/naid/110007875112
CiNii Books
http://ci.nii.ac.jp/ncid/AN10471452
ID情報
  • CiNii Articles ID : 110007875112
  • CiNii Books ID : AN10471452

エクスポート
BibTeX RIS